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電波暗室是用來(lái)做輻射試驗(yàn)的，由吸波材料和屏蔽室構(gòu)成，屏蔽殼體、屏蔽門(mén)、通風(fēng)波導(dǎo)窗和電源濾波器等組成了電波暗室。對(duì)于電波暗室的性能影響因素有三點(diǎn)：暗室參數(shù)、天線測(cè)量誤差和反射影響。

一般來(lái)說(shuō)，影響電波暗室性能指標(biāo)的因素是比較復(fù)雜的，計(jì)算時(shí)不僅要考慮電波的算法還要考慮吸收材料的性能、多次反射等影響。參數(shù)的誤差在于暗室結(jié)構(gòu)并不對(duì)稱(chēng)，吸收材料對(duì)不同的波吸收的不一樣，還有其他原因使電波在暗室傳播時(shí)產(chǎn)生極化不純的現(xiàn)象。天線測(cè)量誤差一般是由有限測(cè)試距離引起的，測(cè)試距離縮短會(huì)讓誤差增大。反射影響是指直射波被周?chē)矬w反射干涉，測(cè)試區(qū)域的場(chǎng)變化之后使得一些數(shù)值都變化，產(chǎn)生誤差，也可能有其他干擾信號(hào)、測(cè)試電纜引起誤差。

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